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CS-4小型探針臺(tái)

CS系列探針臺(tái)最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等。

CM-4簡(jiǎn)易探針臺(tái)

CM系列探針臺(tái)可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等； 外形輕盈，操作方便，價(jià)格實(shí)惠。

CL-6系列中端探針臺(tái)

CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)； 可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用。

CH-8-D 雙面探針臺(tái)

    CINDBESTCH-8-D雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備；該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級(jí)功能；可廣泛應(yīng)用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽(yáng)能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。