CINDBEST CM-4 | 4" 精密I-V測試測量探針臺系統
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◆特點/應用
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| ◆臺體規格 | |
| 尺寸 | 4英寸/6英寸 |
| 水平旋轉 | 可360度旋轉，可微調15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置 |
| X-Y移動行程 | 2英寸*3英寸 |
| X-Y移動精度 | 10微米 |
| 樣品臺Z軸調節 | 可升降10mm |
| 樣品固定 | 真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環 |
| 針座平臺 | 左右各一個針座平臺，最多可放置6個探針座 |
| 背電極測試 | 樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極 |
| 外形尺寸 | 400mm長*380mm寬*500mm高 |
| 重量 | 約20千克 |
| ◆光學系統 | |
| 顯微鏡類型 | 單筒顯微鏡/體式顯微鏡 |
| 放大倍率 | 16X-200X |
| 移動行程 | 水平方向繞立柱360度旋轉，Z軸50.8mm |
| 光源 | 外置LED無極調節亮度環形光源 |
| CCD | 200萬像素/500萬像素/1200萬像素 |
| ◆定位器 | |
| X-Y-Z移動行程 | 12mm*12mm*12mm |
| 移動精度 | 10微米/2微米/0.7微米/0.5微米 |
| 吸附方式 | 磁力吸附/真空吸附 |
| 線纜 | 同軸線/三軸線 |
| 漏電精度 | 10pA/100fA/10fA |
| 固定探針 | 彈簧固定/管狀固定 |
| 接頭類型 | BNC/三同軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子 |
| 針尖直徑 | 0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 |
| 針尖材質 | 鎢鋼/鈹銅 |
| ◆可選附件 | |
| 加熱臺 | |
| 顯示器 | |
| 轉接頭 | |
| 射頻測試配件 | |
| 屏蔽箱 | |
| 光學平臺 | |
| 鍍金卡盤 | |
| 光電測試配件 | |
PS:探針臺可根據客戶要求定制。
規格及設計如有更改，恕不另行通知。
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